Nach drei Jahren erfolgreichen Einsatzes in der Industrie stellte phoenix|x-ray kürzlich das neue Modell des bewährten „ml|inspector“ zur zerstörungsfreien Untersuchung von unbestückten Leiterplatten mittels Mikrofocus-Röntgentechnik vor. Das System wurde grundlegend überarbeitet, so dass die bisher im halbautomatischen Modus vorhandenen Funktionen des ml|inspectors nun vollautomatisch zur Verfügung stehen. Bedienungskomfort und Genauigkeit des Prüfvorganges wurden in folgenden Punkten verbessert:
– neues Manipulationssystem mit noch höherer Präzision
– vollautomatische Bestimmung der Lagenversätze und der Restringbreiten inklusive Gut-Schlecht-Unterscheidung
– optionale Datenbankanbindung zur Prozesskontrolle
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