Streulicht aus Bereichen ober- und unterhalb der Fokusebene führt in der Fluoreszenz- und Hellfeldmikroskopie zu Überstrahlung, Verzerrung und Unschärfe.
Das neue analySIS-Modul ride (rapid image deconvolution) rechnet diese Artefakte aus den Bildern heraus und sorgt so für höhere Auflösung und mehr Details.
Dekonvolution (Entfaltung) ist ein anerkanntes mathematisches Verfahren zur Korrektur von Streulichtartefakten.
Ist der Verzerrungsgrad bekannt (mathematisch durch eine Faltung mit der Point-Spread-Funktion (PSF) beschrieben), kann das Bild „entfaltet“ werden: Die Faltung wird wieder herausgerechnet und die Ursprungsform des Objektes rekonstruiert. Das Ergebnis ist ein geschärftes, entrauschtes Bild mit höherer Auflösung. ride enthält eine Visualisierungsroutine zur Betrachtung der Ergebnisse und ermöglicht die gleichzeitige Darstellung der Originalaufnahmen und der korrigierten Bilder. Dies erspart ein ständiges Umschalten beim Bildvergleich, beispielsweise bei einer Neuberechnung mit verändertem Parametersatz oder anderem Algorithmus.
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