Es gibt zwei neue Software-Module für die Automatic-Paramatric-Test-Systeme. Die beiden neuen Zusatzmodule ermöglichen eine höhere Effektivität bei der Verwaltung des Produktionsprogramms und der Produktivität. Zusammen erhöhen diese beiden Module die Testerausnutzung, da Bedienungsfehler, wie die Auswahl des falschen Messprogramms oder der falschen Probe Card, deutlich reduziert werden können und damit eine absolute Korrelation zwischen Änderungen der Messprogramme, Anomalien in der Prozesssteuerung und den Ausfällen der Produkte im Feld möglich ist.
Die Module wurden für den Einsatz mit den APT-Systemen entwickelt. Die APT-Systeme und die Software werden von Halbleiterfabs eingesetzt, um die Zuverlässigkeit von Produktdesigns und Prozessen durch die Messung kritischer Bauteilmerkmale während der Herstellung sicherzustellen.
A QE 305
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