Für Helmut Fischer ist die jetzt im Zwei-Jahres-Rhythmus stattfindende Fachmesse Oberflächentechnik anläßlich der HMI ein Top-Ereignis. Das Unternehmen, das die gesamte Bandbreite der Schichtdickenmessung zur Verfügung stellt, wird anhand weiter verbesserter Geräteversionen die jüngsten Er-folge und die aktuellen Entwicklungen der Branche dokumentieren.
Der globale Trend geht eindeutig zu immer weiter vereinfachter Bedienung der Meßgeräte und -systeme. Heute können praktisch alle Beschichtungen durchaus auch von angelernten Kräften gemessen werden, beispielsweise vom Mitarbeiter in der Produk-tion.
Dies führt im praktischen Einsatz zu gesteigerter Effektivität und zu rationelleren Arbeitsabläufen. Zum Rationalisierungseffekt tragen dabei nicht zuletzt die organisatorischen Vereinfachungen im Galvanisierbetrieb oder beim Beschichter bei.
Wirtschaftlicheres Messen schließlich ebnet den Weg zur lückenlosen Schichtdickenkontrolle und zum wirksamen Qualitätsmanagement.
Für verschiedene Anwendungsfelder und Meßaufgaben stellt Fischer Schichtdicken-Meßsysteme der unterschiedlichsten Art zur Verfügung – vom Handgerät im Taschen-format bis hin zum Labormeßplatz mit hochpräzisen, anspruchsvollen Techniken.
Den unterschiedlichen Meßaufgaben entsprechend, unterscheiden sich die Automatisierungsstrategien und die gerätetechnischen Maßnahmen.
Gemeinsames Merkmal der gesamten Ge-rätepalette ist die nach wie vor wachsende Bedeutung der Mikroprozessortechnik. Mit fortschreitender Integrationsdichte der Bauelemente gelingt es, immer größere Datenmengen zu speichern und zu verarbeiten. Verfügte ein Handgerät vor wenigen Jahren noch über 4 Applikationsspeicher, sind heute 100 üblich. Mußte beim Messen mit dem FISCHERSCOPE X-RAY gestern noch die jeweilige Meßaufgabe von Fall zu Fall eingegeben werden, sind heute vordefinierte Aufgabenstellungen im Gerät gespeichert, die sofort zur Verfügung stehen. Selbst die scheinbar schwer zu automatisierende cou-lometrische Schichtdickenmessung bedient sich inzwischen der Mikroprozessortechnik.
All dies macht selbst komplizierte Messungen zur Routine. Die Oberflächenveredlung – die aus volkswirtschaftlichen Erwägungen ohnehin kontinuierlich an Bedeutung zulegt – wird heute ganz selbstverständlich in das Qualitätsmanagement einbezogen: Die Fähigkeit der Anlagen wird festgestellt, die Prozesse werden mittels statistischer Verfahren überwacht, und das Arbeitsergebnis wird lückenlos geprüft und dokumentiert.
Auch dies hat die jüngste Entwicklung der Schichtdickenmessung geprägt.
Halle 5/Stand E18 und D04/C06
A QE 620
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