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Der Teufel steckt oft im Detail

Materialprüfung
Der Teufel steckt oft im Detail

Der Teufel steckt oft im Detail
Bild: Diondo
In vielen Technologiebereichen ist Materialprüfung unverzichtbar. Vermeintlich unbedeutende Kleinteile sind dabei eine wirtschaftliche Herausforderung, da klassische CT-Systeme oft überdimensioniert sind. Mit dem Evo05-System schließt Diondo diese Lücke.

Ob in der Energiegewinnung, der E-Mobilität oder im Maschinenbau – Technologien werden immer leistungsfähiger und gleichzeitig komplexer, sodass sie dadurch anfälliger für Defekte sind. Dabei steckt der Teufel oft im Detail: Ein in der Produktion wenige Cent kostendes Bauteil kann durch eine Fehlfunktion, verursacht durch einen Fertigungs- oder Materialfehler, ein komplettes System zum Ausfall bringen. Viel schlimmer wäre jedoch das Auslösen einer fatalen Kettenreaktion, die weitere, deutlich teurere Bauteile beschädigt.

Intensive Materialprüfung mit Hilfe der Computertomografie bei großen und teuren Komponenten, wie beispielweise Batteriezellen in der E-Mobilität oder komplette Getriebe und Rotorteile von Windkraftanlagen gehören heute bereits zum Alltag. Der Einsatz gängiger Systeme für die Inspektion von Kleinteile ist hingegen oft unwirtschaftlich, da leistungsstarke, große CT-Systeme hier deutlich überdimensioniert sind. Zudem ist ihre Anschaffung und der Betrieb in Relation zu den Stückkosten schwer zu rechtfertigen.

„Mit der Evo05-Anlage erweitern wir unser Angebot um ein CT-System, das durch seine Reduktion auf das Wesentliche bei gleichzeitig vielfältigen Einsatzmöglichkeiten gewissermaßen zwei Welten miteinander verbindet“, erklärt Martin Münker, Geschäftsführer der Diondo GmbH aus Hattingen. „Als kompaktes CT-System eignet sich das Modell zur zuverlässigen Analyse und für komplexe Mess- und Prüfaufgaben kleiner und mittelgroßer Teile insbesondere aus Kunststoff, Keramik aber auch aus Leichtmetall.“

Bisher werden in vielen Bereichen Kleinteile aus Kunststoff, Keramik und Leichtmetall überwiegend taktil oder optisch geprüft und vermessen. Gerade im Zuge der Verbreitung der additiven Fertigung gewinnen optisch nicht zerstörungsfrei zugängliche, innenliegende Strukturen für die Qualitätsprüfung und Metrologie zunehmend an Bedeutung. Das neue System ermöglicht es Herstellern, diese Strukturen prozessbegleitend zu analysieren.

Als Plug-and-Play Modell bedarf die Evo05 nur einer kurzen Schulung, um eingesetzt werden zu können und ist darüber hinaus noch komplett wartungsfrei. Die kompakte, platzsparende Bauweise (1260 x 870 x 640 mm bei 1,3 t Systemgewicht) erlaubt die Prüfung von Bauteilen mit Abmessungen bis zu 270 x 200 mm. Die Systemauflösung bewegt sich abhängig von Bauteilgröße zwischen 10 und 100 µm.

Trotz dem Fokus auf Rentabilität und geringen Platzbedarf verzichtet das System nicht auf hochwertigste Komponenten. Das hohe Auflösungsvermögen wird durch eine 150 kV Mikrofokus ebenso sichergestellt wie eine hervorragende Bildqualität. Der in dieser Systemklasse auffällig große 3k-Detektor erlaubt die Analyse von besonders großen Bauteilen „am Stück“ ohne das fehleranfällige Zusammensetzen („Stitchen“) mehrerer einzelner CT-Volumen.

„Mit der evo05 erweitern Unternehmen ihre Prüfmöglichkeiten in Bereichen, in denen eine zuverlässige, zerstörungsfreie und prozessbegleitende Analyse bisher rentabel kaum möglich war, aber zunehmend unverzichtbar wird“, weiß Münker.

Diondo, Halle 5, Stand 5102


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