Die optische 3D-Inspektionseinheit Sysmelec basiert auf dem Prinzip konfokaler Chromatik in einem neuartigen Design, welches mehrere Kontrollen pro Sekunde ermöglicht. Eine komplette 3D-Messung der zu analysierenden Oberfläche wird anhand eines einzelnen, vom Matrixsensor der Inspektionseinheit aufgenommenen Bildes, durchgeführt.
Die durch das optische System des Apparates eingeführte Chromatik ermöglicht, die vom Sensor erfasste Farbinformation direkt in die gemessene Oberflächenhöhe zu konvertieren. Je nach Reflexionsgrad eines Musters kann die Erfassung einige hundert Millisekunden dauern und benötigt keine mechanische Bewegung des Messkopfes. Eine solche Geschwindigkeit verringert die Stabilitätseinschränkungen des Musters und bietet eine mit dem Produktionstakt einer Anlage kompatible Kontrolle. Das Design ermöglicht eine einfache Verbindung mit Standard-Objektiven, egal ob telezentrische Objektive mit großem Sichtfeld für Oberflächen bis zu 100 mm oder Mikroskop-Objektive für Submikrometerauflösungen.
Sysmelec, www.sysmelec.ch Halle 1, Stand 1832
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