Solo- und Verbundfolien – egal, ob lackiert oder beschichtet – lassen sich schnell und genau mit dem neuen Traversensystem T-Dex von Isis Sentronics vermessen. Auch Einzelschichtdicken sind damit bestimmbar.
Das Traversensystem T-Dex dient zur berührungslosen Inprozessvermessung von Beschichtungen und Materialdicken von Einzel-, Doppel- und Verbundfolien. Es wurde zur Integration in stoffumwandelnde Produktionsan lagen in der Lebensmittel- und Verpackungsindustrie, der pharmazeutischen- und der vliesverarbeitenden Industrie entwickelt und berücksichtigt Anforderungen des Explosionsschutzes und der FDA. Durch die innovativen Sensoren sind einerseits sehr dünne Schichten von wenigen μm Materialstärke, aber auch dickere Folien bis 0.5 mm Stärke von nur einer Seite zu messen. Dies ermöglicht eine sehr einfache Traverse mit geringen Genauigkeitsanforderungen und kompakten Einbaumaßen, so dass die Integration der Traverse direkt in den Converter erfolgen kann.
Gegenüber herkömmlichen Methoden mit Betastrahlern oder kapazitiven Sensoren lassen sich nicht nur die Gesamtschichtdicken, sondern auch die Einzelschichten unter Prozessbedingungen bei hohen Geschwindigkeiten messen. Dadurch ergeben sich Möglichkeiten zur Nachregelung von Automatikdüsen bei der Folienextrusion.
Eine steuerungs- und datentechnische Einbindung des Traversensystems an die SPS des Converters beziehungsweise an den Leitrechner in der Produktion erfolgt durch Parametrierung einer Hardware-Schnittstelle, die alle gängigen Schnittstellen und industriellen Ethernet-Protokolle von SPS-Steuerungen unterstützt. Messdaten, Qualitätsdaten oder BDE-Daten können durch Parametrierung an SQL- oder Oracle-Datenbanken übertragen werden.
Isis Sentronics www.isis-sentronics.de Halle 3, Stand 3310
Mehr zum Thema Messe Control
Teilen:
