SRP 5000 von Heidenhain (Halle 8, Stand 8404) ist eine Systemlösung, die Lager, Messgerät und Torquemotor zu einer Baugruppe integriert. Die Kombination ermöglicht eine gleichmäßige Bewegungsführung für hochgenaue Positionier- und Messaufgaben. Das Winkelmessmodul mit integriertem Antrieb ist für die hohen Anforderungen bei Metrologie-Anwendungen optimiert. Dafür bringt es eine sehr hohe Auflösung und Wiederholgenauigkeit auch bei variierenden Einsatztemperaturen mit. Heidenhain fertigt die Lager und Messgeräte für das Winkelmessmodul, Etel die Torquemotoren.
Für die lineare Positionsermittlung mit hoher Genauigkeit bei kompakten Abmessungen hat der Hersteller das offene Längenmessgerät LIP 6000 mit interferentieller Abtastung entwickelt. Die geringe Interpolationsabweichung von ±3 nm, das niedrige Rauschniveau von 1 nm RMS und die Basisabweichung von ±0,175 µm in einem 5-mm-Intervall erlauben eine konstante Geschwindigkeitsregelung oder eine hohe Positionsstabilität im Stillstand.
Hohe Güte der Abtastsignale über die gesamte Lebensdauer – diese Eigenschaften verdankt das Gerät unter anderem dem neuen Signal-Processing-Asic HSP 1.0. Er gewährleistet eine konstant hohe Güte der Abtastsignale über die gesamte Lebensdauer der Messgeräte. Er überwacht dazu permanent das Abtastsignal. Wenn Verschmutzungen auf der Maßverkörperung oder der Abtastplatte zu Signaländerungen führen, gleicht er die daraus resultierenden Abweichungen nahezu vollständig aus und stellt die ursprüngliche Signalqualität wieder her. So nehmen Interpolationsabweichungen und Positionsrauschen im Betrieb bei Verschmutzungen nicht zu. Die Signalamplitude liegt nahezu konstant bei 1 VSS. Selbst bei einem starken Eingriff der Signalstabilisierung verschlechtert sich der Rauschanteil in den Abtastsignalen kaum – ganz im Gegensatz zu Systemen, bei denen die Verstärkung im Signalpfad stattfindet.
Für die täglichen Messaufgaben in der Fertigteilprüfung mit manuellem Einfahren eignet sich die neue Auswerte-Elektronik Quadra-Chek 2000. Die Messpunkterfassung erfolgt an Profilprojektoren, Messmikroskopen und 2D-Messmaschinen über Fadenkreuz oder einen optischen Kantensensor. ■
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