Die 4. Generation des Vega Rasterelektronenmikroskops (REM) von Tescan mit Wolframfaden-Elektronenquelle kombiniert REM-Abbildung und Live-Elementzusammensetzungsanalyse in einem einzigen Fenster der Software Essence. Diese Kombination vereinfacht die Erfassung sowohl morphologischer als auch elementarer Daten von der Probe und macht das Mikroskop zu einer effizienten analytischen Lösung für die routinemäßige Materialprüfung in der Qualitätskontrolle, der Fehleranalyse und in Forschungslabors.
Das Mikroskop verfügt über ein innovatives Optikdesign, das eine sofortige und nahtlose Auswahl der Abbildungs- oder Analysebedingungen garantiert, ohne dass ein mechanisches Neuausrichten eines Elements in der Säule erforderlich ist. Mit dem voll integrierten Essence EDS ist der Wechsel von der Bildgebung zum analytischen Betrieb schnell und einfach. Ein Mausklick ändert alle Setup-Parameter über die Software.
