Das Strahlprofilmessgerät Ophir Wide Beam Imager Swir von MKS Instruments misst große und divergente Strahlen im kurzwelligen Infrarotbereich.
Das neue Strahlprofilmessgerät mit der Abkürzung WB-I Swir ermöglicht es, Größe und Leistungsverteilung von großen und divergenten Strahlen von VCSELs oder LEDs im kurzwelligen Infrarotbereich (Swir) zwischen 900 und 1700nm zu messen. Dazu wird das kompakte, kalibrierte optische System hardwareseitig mit einer Ophir Ingaas Kamera kombiniert. Die Auswertung erfolgt mit der Ophir Beamgage Software.
Bislang führten Strahlprofilmessungen in diesem Wellenlängenbereich aufgrund der hohen Winkelabhängigkeit der Sensoren entweder zu ungenauen Ergebnis oder es mussten teure, unhandliche Messgeräte eingesetzt werden. Mit dem WB-I Swir hingegen lassen sich alle Strahlen jeglicher Form (rund, linienförmig, eckig oder Doughnut) messen, die für den Kamerasensor alleine zu groß wären.
Strahlprofilmessgerät mit 45 mm großer Apertur
Das Strahlprofilmessgerät verfügt über eine 45 mm große Apertur und Strahlen mit einem Einfallswinkel von bis zu 70 ° (im Vergleich zu 15 ° bei einem Standard-Strahlprofilmessgerät) lassen sich präzise messen. Die Strahlen treffen auf einem durchlässigen Diffusorschirm und werden von dort mit einer kalibrierten Optik erneut abgebildet, um ein vollständiges und präzises Bild der Intensitätsverteilung des Lichts zu erhalten. In Kombination mit kamerabasierten Strahlprofilmessgeräten eignet sich der WB-I Swir Profiler für Messungen in Bereichen wie augensichere Anwendungen von IR VCELs oder Dioden, Liadar-Systemen, Gesichts- oder Gestenerkennung oder der Fernerkundung.
Ophir Spiricon Europe(MKS Instruments)
Guerickeweg 7
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