ThermoFisher Scientific stellt mit dem K-Alpha ein kompaktes Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer (XPS) vor. Das K-Alpha analysiert auf Probenoberflächen die atomare Zusammensetzung, die Bindungszustände der Atome und erstellt Tiefenprofile mit diesen Informationen. Im Vergleich zu den bisher erhältlichen XPS-Geräten ist das K-Alpha voll automatisiert und ausgesprochen leicht zu bedienen. Das Probenhandling ist nahezu vollständig automatisiert, nur das Einlegen der Proben erfolgt manuell. Generell leistet das K-Alpha die hochpräzise Messung der atomaren Zusammensetzung einer Oberfläche bis zu einer Tiefe von etwa 10 Nanometern. Ebenso erledigt das System die Analyse der chemischen Bindungszustände auf dieser Oberfläche. Durch automatisches Scannen erreicht man über ein bildgebendes Verfahren die linien- oder flächenhafte Darstellung kompletter Oberflächenregionen auf der Probe.
Mit der Vorstellung des K-Alpha wird die XPS-Technologie zum State-of-the-Art und schafft den Wandel von der reinen Forschung zur produktionsnahen Qualitätssicherung. Sie erschließt sich nun auch jenen Anwendern, die bisher aus Kosten- oder Personalgründen Messungen an ihren funktionalen Oberflächen nicht rentabel selbst durchführen konnten.
ThermoFisher Scientific, Dreieich
QE 549
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