Galvanikbetriebe müssen zunehmend die Dicke der abgeschiedenen Schichten messen und evtl. auch deren Zusammensetzung analysieren. Besonders vorteilhaft eignen sich hierfür Röntgenfluoreszenzmessgeräte. Große Flexibilität gewährleisten diese durch ihre zahlreichen Ausstattungsmerkmale und eine umfassende Funktionsvielfalt. Das hat aber nicht nur Vorteile. Zeitaufwendig und, zumindest für ungeübtes Personal, mitunter fehlerbehaftet ist bei den heute üblichen Geräten mit Messung “von oben” das exakte Positionieren des Messgegenstandes unter dem Röntgenstrahl und das anschließende vertikale Justieren der Röntgenröhre bzw. der DetektorEinheit. Letzteres ist zum Einstellen des richtigen Abstands zwischen Messkopf und Prüfobjekt unbedingt erforderlich.
In der Praxis zeigt sich, dass eine Vielzahl zu prüfender Bauteile, z. B. bei Schrauben, metallisierte Kunststoffteile, elektrische Kontakte und dergl., meistens eine ebene Messstelle haben. Die Werkstücke unterscheiden sich nur in ihrer Länge und Höhe. Von “unten” misst man die Schichtdicken an solchen Werkstücken wesentlich einfacher. Die Werkstücke müssen nur im Bereich der gewünschten Messstelle auf den Messtisch des Röntgenfluoreszenzgeräts aufgelegt und über dem Röntgenstrahl positioniert werden. Dies geschieht wahlweise manuell oder mit Hilfe eines Koordinatentischs und einer Videokamera. Durch das Auflegen des zu messenden Werkstücks direkt auf den Messtisch wird automatisch der exakte Abstand vom Strahlendetektor eingehalten. Das aufwendige und subjektive Fokussieren entfällt. Da die aufwendige Mechanik zum vertikalen Bewegen des Messkopfs entfällt, können die Messgeräte wesentlich einfacher und kostengünstiger gebaut werden.
Deshalb hat dieser Hersteller jetzt das speziell zum Messen kleiner Werkstücke ausgelegte Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät FISCHERSCOPE XRAY XUL entwickelt. Bereits vor etwa einem Jahrzehnt gab es vergleichbare Geräte der Baureihe FISCHERSCOPE X-RAY 1000 bzw. 1010. Diese wurden und werden noch heute bei hunderten von Anwendern erfolgreich genutzt.
Verglichen mit anderen, umfangreich ausgestatteten, Geräten mit Messung “von oben” ist das jetzt entwickelte Messgerät wesentlich kostengünstiger. Der gesamte Mess-kopf, der im wesentlichen aus einer Röntgenröhre und einem Proportionalzählrohr besteht, ist fest unter dem Messtisch angeordnet. Dadurch entfällt das aufwendige Fokussieren der Optik auf die zu messende Schicht. Der Bediener legt lediglich eine Fläche des zu messenden Werkstücks auf den Mess-tisch. Auf Tastendruck misst das Röntgenfluoreszenzmessgerät innerhalb weniger Sekunden die Dicke der Schicht und analysiert ggf. deren Zusammensetzung. Durch diese einfachen Messabläufe und die niedrigen Beschaffungskosten eignet sich das neu entwickelte Röntgenfluoreszenz-Spektrometer insbesondere für einen fertigungsnahen, dezentralen Einsatz. Ein optionaler, manueller Koordinatentisch vereinfacht das Positionieren von kleinen Werkstücken über dem Röntgenstrahl.
Für hohen Bedienkomfort beim Erfassen, Auswerten und Dokumentieren der Messergebnisse entsprechend den Vorgaben der ISO 9000 ff. sorgt die bewährte Betriebssoftware WinFTM. Wie bei den Messgeräten, die “von oben” messen, gibt es auch für die Messgeräte Fischerscope X-RAY XUL die DCM-Methode (Distance Control Measurement). Sie ermöglicht das Messen auf zurückgesetzten, nicht direkt auf dem Messtisch aufliegenden Flächen. Durch einfaches manuelles Scharfstellen der Messstelle wird automatisch der Einfluss des veränderten Abstands über Softwarefunktionen korrigiert.
Weitere Informationen A QE 500
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