Wer topografische Untersuchungen oder Schichtdickenmessungen regelmäßig durchführt, kann diese Aufgabe künftig bis zu 10 Mal schneller erledigen. Der Schlüssel dazu liegt in der 4-kHz-Technologie der eingesetzten optischen Sensoren. Für hochpräzise Abstandsmessungen, zur Qualitätskontrolle und Inline-Überwachung, zur Bestimmung von Glasdicken oder zur berührungslosen Schichtdickenmessung, bietet dieses Verfahren besondere Vorteile. Vor allem die breite Messkopfpalette eröffnet dabei zahlreiche Einsatzmöglichkeiten. So lassen sich mit einem einzelnen Gerät Mikrostrukturen von wenigen µm erfassen, aber auch Oberflächentopographien bis 25 mm. Zum Einsatz kommen die Geräte in erster Linie bei der Produkt- und Prozesskontrolle, der Qualitätssicherung oder im Bereich Forschung & Entwicklung.
Precitec Optronik hat derzeit 2 Geräteversionen im CHRocodile-Programm: Zum einen den Sensor CHRocodile E, welcher mit einer Halogenlampe arbeitet und zum anderen das CHRocodile X, das auf die XENON Lampentechnologie setzt. Dadurch steht eine sehr viel höhere Lichtleistung zur Verfügung, so dass auf fast allen Messproben mit 4 kHz die höchste Abtastrate möglich ist. Neben RS232– und USB-Schnittstelle verfügt das CHRocodile X zusätzlich über einen Ethernet-Anschluss, so dass es auch dezentral angesteuert werden kann. Zu den wichtigsten Anwendern zählen die Glas-, Automobil-, Kunststoff-, Verpackungs-, Elektro- und Halbleiterindustrie.
QE 530
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