Das neue Ebenheits-Messsystem MESA kombiniert die schnelle, flächenhafte, berührungslose, interferometrische Messtechnik mit einem großen Arbeitsabstand. Die Messebene befindet sich mehr als 50 mm vor dem Ausgangsfenster, so dass zurückgesetzte Flächen problemlos vermessen werden können.
MESA stellt eine neue Klasse von Interferometern dar, die durch ein patentiertes Prinzip auch „grobe“ Oberflächen vermessen können. Das desensibilisierte Interferometer analysiert mechanisch bearbeitete Oberflächen, deren Mittenrauhwert Ra 2,5 µm beträgt.
Somit ist es jetzt möglich, gefräste, gedrehte, geschliffene, geläppte oder auch gehonte Werkstücke, berührungslos auf Ebenheit zu prüfen. Die max. feststellbare Ebenheitsabweichung beträgt 150 µm. Der Mess- und Auswertezyklus benötigt lediglich 2/3 s. Selbstverständlich kann die Topographie des vermessenen Werkstückes dreidimensional dargestellt werden.
A QE 416
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