Das neue Testsystem PinPoint II ist für den wirtschaftlichen Test digitaler und hybridbestückter Baugruppen konzipiert. Es wird für den In-Circuit- und Funktionstest eingesetzt und ist aufgrund des Softwareaufbaus auch für den Reparaturbereich hervorragend geeignet. Das modulare Grundsystem mit maximal 384 bidirektionalen Testkanälen (15 MHz Datenrate, 128 K Memory hinter jedem Pin) wird über I/O-Stecker mit dem Prüfling verbunden, über ein Testfixture angekoppelt oder die Testpunkte werden mit IC-Clips kontaktiert. Das System kann mit einem PXI-Rack erweitert und am Markt angebotene PXI-Karten können über die Plug & Play Software einfach eingebunden werden.
PinPoint II lokalisiert alle Arten von Fehlern auf digital und hybrid bestückten Leiterplatten schnell und eindeutig. Kundenspezifische und programmierbare Bauteile können gelernt und in die umfangreiche, etwa 10000 Bauteile umfassende Bibliothek aufgenommen werden.
Voll integrierte analoge Instrumente (DVM, Zähler/Timer und Funktionsgenerator) übernehmen in Verbindung mit einer analogen Signaturanalyse Testaufgaben an analogen und hybriden Baugruppen. Selbst Schaltpläne können rückwirkend erstellt werden, wenn beispielsweise im Reparaturbereich keine Unterlagen verfügbar sind.
A QE 601
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