„Parallel Test Technology: The New Paradigm for Parametric Testing“ ist ein Handbuch zum Thema parametrischer Test von Halbleitern. Das 60-seitige Handbuch bietet eine Übersicht über die neuste Testverfahren, wie parallele parametrische Tests, eine Strategie für parametrische Tests auf Wafer-Ebene mit einer gleichzeitigen Durchführung von mehreren Tests auf mehreren Scribe-Line-Teststrukturen und unterstützt Halbleiter-Fabs dabei einen maximalen Testdurchsatz und niedrigste Testkosten zu erreichen.
Themen:
- Grundlagen paralleler parametrischer Tests
- Implementierung paralleler Tests
- Nutzung paralleler parametrischer Tests mit bestehenden Hardware-Lösungen
- Entwicklung von Teststrukturen für parallele Tests
Das Handbuch ist kostenlos erhältlich.
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