Mit dem ALTAIR Li-System von Cedip können berührungslose Beanspruchungsanalysen von Strukturbauteilen unter dynamischer Belastung durchgeführt werden.
Die eingebundene Hochleistungs-Focal-Plane-Array-Kamera liefert präzise, thermische Bilder, die mittels der integrierten Software in Echtzeit konvertiert werden, um die mechanische Spannungsverteilung darzustellen. Neben der hoch qualitativen Spannungsanalyse bei zufälliger, transienter oder dynamischer Belastung bietet ALTAIR Li außerdem die Möglichkeit, dissipative Energien zu messen und damit frühzeitig die Dauerfestigkeit zu bestimmen sowie Informationen über den Schadensmechanismus abzurufen.
Das System verfügt neuerdings über eine zusätzliche Funktion zur Bewegungskompensation bei großen Auslenkungen des zu messenden Objekts.
Cedip Infrared Systems,
München
QE 544
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