Mit dem LEAP HR stellt Imago Scientific Instruments ein Atomsondenmikroskop vor, mit dem die Zusammensetzung von Materialien auf der atomaren Skala mit hoher Genauigkeit analysiert werden kann. In der Atomsonde wird die Punktprojektionsmikroskopie des Feldionenmikroskops mit Flugzeitmassenspektrometrie kombiniert. Die Bezeichnung HR (High Resolution) weist auf die sehr gute Massenauflösung dieser Systeme im spannungsgepulsten Arbeitsmodus hin. Das LEAP 3000 HR liefert die beste Massenauflösung, die jemals mit einem kommerziellen Atomsondenmikroskop erreicht wurde. In der Konfiguration als LEAP 3000X HR steht neben dem spannungsgepulsten Messmodus auch das laserunterstützte Messverfahren für Proben geringer Leitfähigkeit zur Verfügung. Durch Kombination mit dem weiten Gesichtsfeld des LEAP, welches die Analyse von großen Probenvolumina gestattet, eröffnen sich viele Anwendungen in der Metallurgie und der Analyse moderner Materialien. Das LEAP HR ergänzt Imagos 3000X Si Produktfamilie, welche speziell für Anwendungen im Halbleiter- und Mikroelektronikbereich entwickelt wurde. Die LEAP-Technologie misst die Probenzusammensetzung und dreidimensionale Struktur mit nahezu atomarer Auflösung. Die Analyse dieser Daten kann Struktur-Eigenschaftsbeziehungen zwischen mechanischen, elektrischen und magnetischen Probeneigenschaften und der atomaren Struktur aufklären.
Atomic Force F&E, Mannheim
QE 536
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