Carl Zeiss MicroImaging stellt das inverse Forschungsmikroskop Axio Observer für Materialmikroskopie in drei Varianten vor. Mit Hochleistungsoptik, übersichtlichem Touch-Screen-Display und je nach Geräteversion unterschiedlichem Codierungs- und Motorisierungsgrad werden zum Beispiel Werkstoff- und Gefügeanalyse, Bauteilvermessungen sowie Routineuntersuchungen in der Metallerzeugung und Metallverarbeitung wesentlich komfortabler und zuverlässiger. Der Bedienkomfort der Mikroskope ist auf die individuellen Bedürfnisse der Anwender in Werkstoffkundelabors in Forschung, Ausbildung und Industrie, in der Qualitätssicherung und metallografischen Labors abgestimmt. Mit den drei Ausrüstungsvarianten Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m und Axio Observer.Z1m steht für jeden Anspruch – von der Einstiegsklasse bis zur High-End-Version – das optimale System zur Verfügung.
Der apochromatisch korrigierte Beleuchtungsstrahlengang führt zu deutlich verbesserter optischer Leistungsfähigkeit bei allen Kontrastierungsverfahren im Auflicht, sorgt im Hellfeld für brillante kontrastreiche und farbtreue Detailwiedergabe und bietet im Dunkelfeld optimale Streulichtminimierung. Er ermöglicht damit die Detektion selbst kleinster Objektstrukturen und -defekte. Ebenso können die mikroskopischen Verfahren Fluoreszenz, Durchlicht-Hellfeld, Phasenkontrast, homogenes DIC, C-DIC und Polarisation eingesetzt werden.
Das Touch-Screen-TFT-Display am Axio Observer.Z1m eröffnet durch umfassende Statuskontrolle und komplette Steuerung des Mikroskops einzigartige Freiheiten in der Mikroskop- und Systembedienung. Zusammen mit der Dockingstation ist auch einen vollständige Fernsteuerung des Mikroskops möglich. Benutzereinstellungen können gespeichert und jederzeit wieder aufgerufen werden.
Carl Zeiss MicroImaging, Jena
QE 535
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