Mit der Variante Ml des Laser-Scanning-Mikroskops LSM 510 von Carl Zeiss steht jetzt auch für die Materialforschung und -prüfung ein preisgünstiges System zur Verfügung. Die Aufnahme dreidimensionaler Strukturen der unterschiedlichsten Werkstoffe ist berührungslos und damit zerstörungsfrei möglich. Das bei Carl Zeiss entwickelte innovative Scan-Konzept erlaubt noch mehr Flexibilität in der Anwendung. Neue Softwarepakete bieten optimale Voraussetzungen für eine komfortable Oberflächenanalyse.
Die Basiskonfiguration für Routine-Reflexionsmessungen im Materialbereich enthält einen rauscharmen und langzeitstabilen, roten Helium-Neon-Laser sowie zwei konfokale Aufnahmekanäle. Um eine höhere Auflösung zu erreichen und Reflexion und Fluoreszenz einfach und flexibel zu nutzen, kann diese Konfiguration mit einem ArgonMultilineLaser nachgerüstet werden. Für hohe Ansprüche an die Fluoreszenz auch bei Materialproben wird eine Ausrüstungsvariante des LSM mit Laserlinien von 351 nm bis 633 nm und mehreren Detektionskanälen (2, 3 oder 4 Kanäle, Faserauskopplung) angeboten.
Im High-End-Segment kann ein ArgonUV-Laser für höchste Auflösung oder ein Kurzpuls-IR-Laser für Multiphotonenanregung eingesetzt werden.
Dreidimensionale Oberflächenstrukturen können jetzt mit dem neuen Softwarepaket „Topographie für LSM“ komfortabel analysiert werden. Zahlreiche 2-D- und 3-D-Display- und Meßfunktionen erleichtern die schnelle, visuelle Orientierung auf der Probe und gestatten eine präzise Quantifizierung der Oberfläche.
– QE 504
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