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Mikrohärte-Messgerät für Nanoschichten

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Mikrohärte-Messgerät für Nanoschichten

Mikrohärte-Messgerät für Nanoschichten
Nur wenige Atomlagen dünne Schichten, sogenante Nanoschichten, bewirken spezielle Effekte. Dazu gehören z. B. ein hoher Verschleißschutz, eine elektrisch steuerbare Lichtdurchlässigkeit bzw. Entspiegelung von Gläsern, das Minimieren des Reibwiderstands sowie wasser- und schmutzabweisende Eigenschaften auf lackierten Oberflächen von Kunststoffen und Metallen. Deshalb nutzt man die Vorteile der Nanoschichten zunehmend in technischen, industriellen Anwendungen. Beschichtet werden beispielsweise CD-ROMS, Gläser von Schutz- und Sonnenbrillen, Fahrzeugscheiben und -spiegel, Armaturen sowie lackierte Kunststoffteile. Allerdings ist die Qualitätsprüfung für nur wenige Nanometer dünne Schichten bisher besonders aufwändig. Ursache sind die gegenüber Makroschichten oft völlig unterschiedlichen physikalischen Eigenschaften. Ein wichtiges Kriterium beim Beurteilen der Nanoschichten ist der Eindringmodul. Schwierigkeiten bereitet bisher allerdings das signifikante Messen der nur wenige Millinewton bzw. nur wenige Nanometer betragenden Prüfkräfte bzw. Eindringtiefen. Dazu benötigt man eine besonders aufwändige Technik.

Wesentlich günstiger arbeiten Qualitätsprüfer in der Nanotechnologie jetzt mit dem PICODENTOR HM500 von Helmut Fischer. Die Beschaffungskosten für dieses Gerät betragen weniger als die Hälfte der bisher für vergleichbare Messgeräte üblichen Kosten. Die Auflösung beim Aufbringen der Prüfkraft beträgt ca. 100 Nano-Newton, beim Messen der Eindringtiefe ca. 40 Pikometer. Maximal ermöglicht das Messgerät eine Prüfkraft von 500 mN Eindringkraft bei max. 150 µm Eindringtiefe. Durch seine automatisch ablaufenden, je nach Vorgabe nur wenige Sekunden dauernden Messabläufe eignet es sich nicht nur für Messungen im Labor, sondern kann auch vorteilhaft bei einer Produktion begleitenden Qualitätssicherung eingesetzt werden. In Verbindung mit einem Personal-Computer stellt das Mikrohärte-Messgerät sämtliche üblichen statistischen Auswertungen, Protokolle und Dokumentationen zur Verfügung.
QE 549
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