Ein weites Feld von möglichen Applikationen deckt SPEAs Mixed-Signal- Halbleitertesterfamilie C372MX ab, die sich mit maximal jeweils 256 digitalen sowie 256 analogen Pins für Taktraten bis 100 MHz ausbauen läßt. Wobei sich solche Systeme für Anwender aus einer großen Zahl möglicher hochgenauer Instrumentierungsmodule und Optionen sehr gezielt konfigurieren lassen und somit auch sehr wettbewerbsfähige, kostengünstige Testslösungen erlauben. Von Diskreten, Glasfasertreibern/Verstärkern sowie Automobilbausteinen bis hin zu Mikrocontrollern und Tuner-Modulen im Gigaherzbereich können damit effiziente Prüfsysteme absolut anwendungsnah zusammengestellt werden. Leistungsfähige Konfigurationen lassen sich für den klassischen Wafertest (Frontend) und auch gleichermaßen für den IC-Finaltest (im Backend) als auch für die Baustein-Charakterisierung im Designstadium zusammenstellen. Dabei ist der Anwendersupport von SPEA in allen relevanten Bereich außergewöhnlich gut, wie die Marktforscher von VLSI Research Inc. in ihrer letzten weltweit angelegten Studie über die Zufriedenheit der Nutzer von Halbleiter-Produktionssystemen feststellten. In Hard- und Software kompatibel ist dieser Tester übrigens mit der „kleineren“ Familie C400MX, die aus den zwei Modellen C430MX und C460MX besteht und primär auf anspruchsvolle Hochstrom/Hochvolt-Applikationen fokussieren.
SPEA, Systeme für professionelle Elektronik und Automation, Fernwald-Steinbach
QE 547
Teilen:
