Für die Qualitätsprüfung von Leiterplatten entwickelte NanoFocus in Zusammenarbeit mit Kaitronic (Taiwan) das NanoFocus µscanPro. Die Basis bildet das Standardsystem des optischen 3D-Profilometers µscan. Kombiniert mit einer hinsichtlich Datenübertragung und Messfrequenz – nun bis zu 30kHZ – optimierten Sensorbaureihe ist das µscanPro die ideale Lösung für eine hochwertige und kosteneffiziente Platinenproduktion. Das NanoFocus µscanPro bietet mit motorischen Achsen bis 600 mm Länge genügend Verfahrweg für die Inspektion von PCB-Units ohne vorherige Vereinzelung. Ein leicht zu bedienendes Softwaretool ermöglicht den schnellen Wechsel auf ein neues Boarddesign. Typische Messaufgaben sind die geometrische Erfassung von gefüllten µvias, Vertiefungen zur Durchkontaktierung der Platine, und der Leiterbahn oder Bestimmung der Rauheit nach DIN EN ISO auf Leiterbahn und Trägermaterial. Die dafür verwendeten chromatischen Sensoren lösen lateral Strukturen bis 2 µm und vertikal bis zu 10 nm auf. Robuster Aufbau und Komplett-einhausung des Gerätes ermöglichen die Integration in die Produktionsumgebung. Die Auswertung der Messergebnisse erfolgt vollautomatisch nach zuvor definierten Parametern und wird in Form eines Messprotokolls ausgegeben.
NanoFocus, Oberhausen
QE 521
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