Herstellern von Multilayer Leiterplatten bietet sich jetzt eine Lösung zur Untersuchung übergroßer Formate. Der ml|inspector XXL ist das neueste Gerät in der Familie der Mikrofocus Röntgeninspektionssysteme für Multilayer Leiterplatten. Aufbauend auf dem erfolgreichen Konzept des ml|inspectors bietet dieses System eine deutlich größere Durchlichtfläche von 1400 x 650 mm. Das System verfügt wahlweise mit einer 80 oder 100 kV- Röntgenröhre und erreicht eine Detailerkennbarkeit von 3 beziehungsweise 4 m. Es eignet sich sehr gut für die zuverlässige Restringbreitenbestimmung und die Inspektion von Microvias. Die Autopositionierung erlaubt die Untersuchung auch größerer Stückzahlen in der Fertigung. Das Gerät ist uneingeschränkt im Schichtbetrieb einsetzbar und findet dort wegen der einfachen Bedienbarkeit besondere Akzeptanz.
A QE 505
Teilen:
