Mit seiner Fähigkeit zur gleichzeitigen Prüfung von 128 Speicherbausteinen bietet das neue Front-End Flash Memory Test System T5771 die achtfache Kapazität seines Vorgängers und damit eine kostengünstige Möglichkeit zum Erreichen eines höheren Testdurchsatzes.
Zur Durchführung von Funktionstests an der nächsten Generation von Flash-Speichern mit ihren immer höheren Datenraten unterstützt das System T5771 Tests mit bis zu 100 MHz bei einer Gesamtgenauigkeit von ± 0,5 ns. Dank der extrem hohen Packungsdichte durch den Einsatz hochintegrierter ASICs und Multi-Chip-Module ist das System T5771 sehr kompakt aufgebaut und kann, auf die Fläche umgerechnet, viermal mehr Bausteine gleichzeitig testen als das Vorgängersystem. Zudem wurde die Anzahl der Systemkomponenten verringert. Gemeinsam mit der achtmal höheren simultanen Prüfkapazität haben diese Design- und Produktions-Innovationen dazu beigetragen, die Kosten zum Prüfen eines Bausteins auf ungefähr ein Drittel zu senken.
A QE 623
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