Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-F100 von Jeol vereint höchste Auflösung mit intuitivem Handling. Mit der patentierten In-Lens-Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung. Für die automatisierte Partikel- und Restschmutzanalyse gemäß VDA19a und ISO16232 bietet der Hersteller ein integriertes System aus der Intouch-Rasterelektronenmikroskop-Serie samt integrierter Farbkamera und vollständig integriertem Elementanalyse-System (EDX).
Eine maßgeschneiderte Software bildet den kompletten Analyseprozess ab – vom automatischen Anfahren mehrerer Filter über die sequenzielle Datenaufnahme und Partikelklassifizierung bis hin zur statistischen Auswertung. Durch die intuitive Integration ist das System selbst für Einsteiger leicht zu erlernen und sorgt damit für einen reibungslosen Übergang von licht-mikroskopischen Analysen hin zur hochaufgelösten und elementspezifischen Charakterisierung im Elektronenmikroskop.
